隨著芯片技術和技術的不斷突破,芯片廠房設備的生產(chǎn)也必須相應地進行改造和調整,以滿足機器的需要。對已建成的設施進行改造和調整,必然會影響正常生產(chǎn),產(chǎn)生巨大的成本。如何在規(guī)劃階段考慮芯片制造的發(fā)展方向,并體現(xiàn)在工藝布局上,最終在設計圖紙上實施,留下明確的發(fā)展和改造空間,減少投產(chǎn)后的重大變化,使原有的生產(chǎn)有序發(fā)展,滿足新產(chǎn)品生產(chǎn)的需要,快速批量生產(chǎn)。從傳統(tǒng)的工藝布局出發(fā),結合產(chǎn)業(yè)升級對布局和各廠設施的風險,在規(guī)劃過程中合理規(guī)劃工藝劇,指導設計,解決芯片升級帶來的影響生產(chǎn)的風險。
目前,全球晶圓制造大多選擇了工藝布局中空間利用率最大化的概念,在潔凈面積有限的前提下,盡量布局更多的工藝設備。大多數(shù)空間布局也選擇了港口式的集中布局。主要空間布局包括,擴散、黃光、干式刻蝕、濕式清洗與刻蝕、薄膜、化學研磨、量測等。
產(chǎn)業(yè)發(fā)展對設備布局的影響
目前集成電路芯片的技術發(fā)展路線,主要可歸納下列幾點:
●特征尺寸已到達2nm,逼近物理極限,對于光刻、刻蝕等工藝挑戰(zhàn)極高。
●極紫外光刻設備,需要預留較大的空間與結構荷載,并對于微震耗電量熱負荷等都有較高的需求。
●高度系統(tǒng)集成芯片已成為主流趨勢,將大幅度提高后道金屬工藝復雜性,增加光罩數(shù)。
●為提升產(chǎn)品良品率,在線檢測設備大幅度增加,部分關鍵工藝將由抽檢改為全檢方式。
●三維構建增加,將提高成膜厚度,拉長節(jié)拍時間,需要更多腔體滿足產(chǎn)能目標。
●新材料應用漸增,需預留特氣化學品擴充彈性,與充足之相對應廢水廢氣處理能力。
由于產(chǎn)品的特征尺寸極小化,關鍵區(qū)域空氣分子物污染的防治已經(jīng)是刻不容緩。
適合產(chǎn)業(yè)升級改變設備布局的風險
面對工藝技術的不斷提升,工藝設備與布局也需要常態(tài)性的調整,這對于已經(jīng)在運行中的芯片廠而言,無疑是一場災難。主要的風險可歸納如下:
●早期的設備布局概念,雖然將設備布局與空間利用率極大化,但缺乏調整與擴充之彈性。
●下夾層設備輔機與動力管道,錯綜復雜,若動態(tài)調整設備布局重新安裝接管,勢必需要停止產(chǎn)線運行,造成巨大損失。
●設備布局的隨機調整,也可能造成潔凈等級與溫濕度失控等不利因素。
●關鍵區(qū)域譬如黃光區(qū),若無足夠預留空間,也容易造成無法增加設備的窘境。
●導入新的工藝技術技術或新材料,往往造成動力系統(tǒng)的額外負擔,若初期未考慮預留,新增動力設施往往需要付出巨大的成本。
●近年來由于鍵合設備的導入,大型的系統(tǒng)集成芯片與封裝技術也逐步成熟,造成現(xiàn)有的晶圓廠面臨極大的改造壓力。
IE在設計規(guī)劃階段考量要點
集成電路芯片的生產(chǎn)工藝布局,有以下考慮要素:
1.曝光機為芯片生產(chǎn)之最核心關鍵之工藝,其精確性將直接影響產(chǎn)品之良品率。
2.曝光機一般與涂布顯影機臺整合為一體設備,該區(qū)域對于溫濕度、潔凈等級要求、微震等,都有較高的要求,因此在工藝布局規(guī)劃上,需優(yōu)先考慮其合理位置。
3.目前新建廠房主要為12寸(300mm),相較于8寸(200mm)晶圓廠,需考慮全自動搬送系統(tǒng)(AMHS)。
4.動力管道與排放距離。
5.其他考慮因素:包括避免空氣分子污染物對于關鍵工藝的影響、銅制程的擴散隱患、工藝連續(xù)性與傳輸距離、緊急逃生距離與法規(guī)限制、回風道設置等。
合理的工藝布置,能有效縮短工藝站點傳輸距離、并兼顧動力供應與排放之距離、同時避免空氣分子污染物對于關鍵設備之影響、降低潛在微震源對曝光機或光學檢測設備之影響等優(yōu)勢。
常見的三種分期模式:
1.橫向分期模式,土建部分一次完成,設備動力與空調等系統(tǒng)按照計劃逐步分期實施。能最大程度節(jié)省初期建設費用,空調與動力系統(tǒng)均按照生產(chǎn)設備進場實施點進行擴充,并且二期部分實施對于一期生產(chǎn)影響較小。這種分期方式的缺點是工藝的功能區(qū)域無法集中,分散的功能區(qū)域容易造成后期運行管理與派工的混亂。
2.縱向分期模式,土建部分同樣一次完成,隔板豎向穿越中央物流通道,相較于橫向分期模式,能最大化保留了集中式的功能區(qū)域分布。但一期運轉階段空調的氣流分布不均,僅依靠單側回風通道,對于關鍵工藝需進行氣流模擬與優(yōu)化調整。
3.混合式分期模式,土建與機電空調一次完成,僅針對設備安裝進行分期,由內而外逐步安裝。這種方式對于一二期間隔時間較短有其優(yōu)勢,無需進行物理隔斷,功能區(qū)域能按照最優(yōu)的方式進行布置。
前期可依照不同客戶需求與目標,進行多個不同的分期方案比較,兼顧實施風險與初始投資。
生產(chǎn)路徑優(yōu)化具體過程如下:
1.根據(jù)工藝流程與工藝布局,完成From To表。
2.根據(jù)From To表,計算搬送距離。
3.確認主要的搬送瓶頸。
4.調整關鍵設備功能區(qū)位置或分散部分瓶頸設備。
5.重新制作FT表,并計算搬送距離。
目前12寸芯片廠,由于全面采用了自動搬送系統(tǒng),大幅度提升了搬送速度與效率,搬送距離已無法造成生產(chǎn)瓶頸,但從運轉節(jié)能角度來說,仍然有優(yōu)化之必要性。
無論是技術還是規(guī)模,全球晶圓制造都不斷挑戰(zhàn)物理極限。為了追求成本控制,設備布局必須考慮更多因素,提高整體靈活性,考慮運行效率。在空間利用方面,部分非主要設備,如線下測量,布局在支撐區(qū)或清潔下隔斷區(qū)。WAT或部分檢測設備等無設備輔機的工藝設備,脫離主廠房潔凈區(qū),或布局在支撐區(qū),節(jié)省主廠房空間,為瓶頸設備提供更大的擴展彈性。工藝流線和路徑,選擇嚴格的分析計算,與同類型的生產(chǎn)廠房進行比較,尋找合理的空間布局設備。